UVLO2 [Test] # 6. General한 Test issue 상황 분석 및 디버깅 절차에 대하여 (1) 반도체 테스트를 진행하다 보면 수 많은 유형의 Test 불량이슈를 마주하게 될 것입니다. 그 중에서도 자주 발생하는 유형과 그에 대한 해결책을 적음으로써 하나의 메뉴얼이 되도록 돕고자 합니다. 크게 3가지 유형의 issue로 분류를 해보겠습니다. 하드웨어(HW) 이슈 (ex. 프로브카드 위의 회로 소자들 / 전압&전류&저항같은 전기적 parameter에 대한 문제 발생) 소프트웨어(SW) 이슈 (ex. 테스트 프로그램 / Time항목) 설비(Machine) 이슈 (ex. 프로브카드 솔더링 문제 / 테스트 리소스 Fail / 그 외 설비 상의 문제들) 빨간색 화살표의 의미는 이 3가지 이슈는 단독이 아니라 함께 발생할 수도 있음을 의미합니다. 그럼 제일 먼저 HW이슈를 보겠습니다. sw랑 machine쪽은.. 2022. 1. 25. [Test] # 2. Under Voltage Lock Out & Hysteresis 이번 포스팅부터는 유명한 테스트 아이템 항목들을 다뤄보고자 합니다. 첫번째로 Under Voltage Lock Out이라 해서 UVLO라고 짧게 부릅니다. 얘 쉽게 말하자면 문턱전압 재는거에요. 근데 왜이렇게 어려운 말을 쓰느냐? 문턱전압에 영향을 주는게 2가지가 있기 때문입니다. 바로 Input전압과 Power전압입니다. 일반적으로 우리가 아는 문턱전압은 예를 들면, Input전압을 0V에서 15V까지 천천히 증가시키면서 Output이 어떤 Input 전압 값에서부터 발생하는지 확인하는 것이었습니다. UVLO는 Power전압을 0V to 15V로 증가시키면서 Output이 어떤 Power 전압 값에서부터 발생하는지 확인하는 것입니다. 아래 표로 깔끔히 정리해놨습니다. UVLO V_th 공통점 두 항목 .. 2022. 1. 23. 이전 1 다음
