누설전류1 [Test] # 6. General한 Test issue 상황 분석 및 디버깅 절차에 대하여 (1) 반도체 테스트를 진행하다 보면 수 많은 유형의 Test 불량이슈를 마주하게 될 것입니다. 그 중에서도 자주 발생하는 유형과 그에 대한 해결책을 적음으로써 하나의 메뉴얼이 되도록 돕고자 합니다. 크게 3가지 유형의 issue로 분류를 해보겠습니다. 하드웨어(HW) 이슈 (ex. 프로브카드 위의 회로 소자들 / 전압&전류&저항같은 전기적 parameter에 대한 문제 발생) 소프트웨어(SW) 이슈 (ex. 테스트 프로그램 / Time항목) 설비(Machine) 이슈 (ex. 프로브카드 솔더링 문제 / 테스트 리소스 Fail / 그 외 설비 상의 문제들) 빨간색 화살표의 의미는 이 3가지 이슈는 단독이 아니라 함께 발생할 수도 있음을 의미합니다. 그럼 제일 먼저 HW이슈를 보겠습니다. sw랑 machine쪽은.. 2022. 1. 25. 이전 1 다음
